型號(hào):HK-DWZZ-01
時(shí)間:2024-11-13
訪問(wèn)量:5962
一,低溫?fù)暇碓囼?yàn)裝置標(biāo)準(zhǔn):JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
二,說(shuō)明:
導(dǎo)體斷面積100mm2以下之試料在本機(jī)內(nèi)冷卻1小時(shí)后,立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料,則先行卷繞,再冷卻相同之時(shí)間后,立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料,檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。
三,技術(shù)參數(shù):
溫度 Temp. |
冷卻方式 Cooling method |
降溫速度 Cooling speed |
精度 Accuracy |
材質(zhì) Material |
圓桿 Rod |
內(nèi)箱 Test chamber |
線套 |
體積 Dimension (W×D×H) |
重量 Weight |
電源 Power |
-40~+130℃ |
氣冷式 Air Frozen |
常溫 Room temp. ~-40℃, 60min |
±2℃ |
內(nèi)外箱, SUS304# |
Φ4.0~37.5mm,共12支 |
45×50×50cm |
Φ3.5/6/ 10/12/ 16mm 各2只 |
100×80×135cm |
262kg |
1∮ AC 220V 30A |